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陶瓷磚綜合測(cè)試儀概述TZY型陶瓷磚綜合測(cè)定儀是用于測(cè)定各種墻面磚、地面磚尺寸及形狀特性之儀器,其所測(cè)參數(shù)包括面磚的邊直度、直角度、邊彎曲度等六項(xiàng)指標(biāo)。測(cè)定時(shí),只需次放置被測(cè)試件,便能迅速、準(zhǔn)確地測(cè)出以上幾項(xiàng)指標(biāo)數(shù)據(jù)。本產(chǎn)品符合:GB/T3810.2-2006,ISO 10545-2-1995《陶瓷磚-尺寸和表面質(zhì)量的檢驗(yàn)》的要求。它是陶瓷磚生產(chǎn)廠家和質(zhì)量檢測(cè)部門(mén)理想的檢測(cè)儀器。
產(chǎn)品型號(hào):TZY
更新時(shí)間:2024-08-21
一、陶瓷磚綜合測(cè)試儀主要技術(shù)參數(shù)
1、測(cè)量精度:±0.01mm
2、測(cè)量范圍:40×40~600×600mm,800×800mm,1000×1000mm供選擇
3、標(biāo)準(zhǔn)板客戶選購(gòu)(自備)
二、陶瓷磚綜合測(cè)試儀原理及結(jié)構(gòu)
本儀器由支承平板、可移動(dòng)的左支座和右支座組成個(gè)直角坐標(biāo)系。先將平板上三個(gè)等高支承銷(xiāo)支承標(biāo)準(zhǔn)板(與陶瓷磚外形尺寸相同)進(jìn)行探測(cè),并將百分表值調(diào)整適當(dāng)位置,并記下該示值。然后,以被測(cè)陶瓷磚取代標(biāo)準(zhǔn)板,在不移動(dòng)測(cè)量點(diǎn)的情況下,分別測(cè)出六項(xiàng)指標(biāo)參數(shù)。左、右支座及中心測(cè)量支座可在平板上作平行移動(dòng),組成不同位置的空間坐標(biāo),以適應(yīng)不同規(guī)格尺寸陶瓷磚的測(cè)定。
各測(cè)量參數(shù)及其定義
1、邊直度:在磚的平面內(nèi),邊的中央偏離直線的偏差(見(jiàn)示意圖-9),邊直度用百分比表示,用下式計(jì)算:
C
——×100%
L
式中:C- 測(cè)量邊的中央偏離直線的偏差。
L- 測(cè)量邊長(zhǎng)度。
2、直角度:將磚的個(gè)角緊靠著放在用標(biāo)準(zhǔn)板校正過(guò)的直角上,測(cè)量它與標(biāo)準(zhǔn)直角的偏差(見(jiàn)示意圖-4),直角度用百分比表示,用下式計(jì)算:
δ
——×100%
L
式中:δ- 磚的測(cè)量邊與標(biāo)準(zhǔn)板相應(yīng)邊在距轉(zhuǎn)角5㎜處測(cè)得的偏差值。
L- 磚測(cè)量邊長(zhǎng)度。
3、邊彎曲度:磚條邊的中點(diǎn)偏離由該邊兩頂角為直線的距離(見(jiàn)示意圖-2)。邊彎曲度用百分比表示,用下式計(jì)算:
△S
———×100%
式中:△S-磚條邊的中點(diǎn),偏離由該邊兩頂角為直線的距離。
L-測(cè)量邊長(zhǎng)度。
4、翹曲度:磚的三個(gè)角決定個(gè)平面,其第四個(gè)角偏離該平面的距離(見(jiàn)示意圖-1)。翹曲度用百分比表示,用下式計(jì)算:
△W
———×100%
式中:△W- 測(cè)量角偏離其它三個(gè)角所決定平面的距離。
D- 磚的對(duì)角線長(zhǎng)度。
5、中心彎曲度:磚的中點(diǎn)偏離由磚四個(gè)角中三個(gè)角所決定的平面的距離(見(jiàn)示意圖-8)。
中心彎曲度用百分比表示,用下式計(jì)算:
△C
———×100%
D
式中:△C- 磚的中點(diǎn)偏離平面的距離。
D- 磚的對(duì)角線長(zhǎng)度。
6、邊長(zhǎng)度:將磚的個(gè)角緊靠著放在標(biāo)準(zhǔn)板校正角的直角上,測(cè)量它與標(biāo)準(zhǔn)的偏差(見(jiàn)示意圖-3)。用下式計(jì)算:
L+δ
式中:δ- 磚的測(cè)量邊與標(biāo)準(zhǔn)板相應(yīng)邊在距轉(zhuǎn)角5㎜處測(cè)得的偏差值。
L- 標(biāo)準(zhǔn)板相應(yīng)邊的長(zhǎng)度。